Electrónica
URI permanente para esta comunidadhttps://hdl.handle.net/20.500.13028/5128
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Examinando Electrónica por Autor "Lévano Lévano, Jhon Eduardo"
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Ítem Acceso Abierto Un primer enfoque a la odometría visual para solucionar la localización y mapeo simultáneo (SLAM) implementando un filtro de Kalman extendido en Cotener S.A.C.(Universidad Nacional San Luis Gonzaga., 2024) Lévano Lévano, Jhon Eduardo; Uculmana Matias, José LuisLa investigación aborda los desafíos que enfrenta el Perú en el desarrollo de infraestructura y procesos, destacando la importancia de tecnologías como SLAM (Localización y Mapeo Simultáneos) para mejorar la precisión en la localización y mapeo en tiempo real. Se propone desarrollar una solución SLAM mediante un filtro de Kalman extendido para la odometría visual, implementado con la librería OpenCV en un entorno de desarrollo integrado. Aunque no se lograron resultados experimentales completos, se estableció una sólida base teórica e de implementación para EKF-SLAM, incluyendo la infraestructura para la asociación de datos y el seguimiento de puntos de referencia. Sin embargo, persisten dificultades prácticas como la derivación empírica de la matriz de covarianza y la asociación de datos. Estos hallazgos señalan la necesidad de abordar limitaciones económicas y tecnológicas para una adopción masiva de soluciones basadas en odometría visual y SLAM en el contexto peruano